中科院南京地质古生物研究所Zeiss Crossbeam 550 聚焦离子束-场发射扫描电子显微镜（FIB-SEM）正式开放对外服务，可进行高分辨率表面形貌与结构观察、EDS及EBSD分析（点/线/面扫描）、样品截面观察、STEM观察、纳米分辨率三维结构重建以及透射电镜（TEM）超薄片样品的制备。欢迎各位老师咨询与预约使用。

性能指标与优势特色：
1. SEM: 加速电压0.02 - 30 kV，肖特基场发射灯丝，分辨率：1.4 nm （1 kV，在最佳WD）；
2. FIB：加速电压0.5 - 30 kV，镓液态金属离子源，分辨率3 nm (30 kV, 1 pA)
3.多种探测器：镜筒内及镜筒外二次电子/背散射信号探测器；EDS/EBSD；STEM。
4.纳米操作机械手，完成TEM超薄片的制备；

开通预约测试账户请联系：张羽，025-83282287，yuzhang@nigpas.ac.cn

实验预约与仪器使用请联系：陈倩 15990155856 / 阳乐 16655125014